新闻中心News Center

联系我们

昆山浦力真空科技有限公司
联系人：陈先生
手机：159-5111-1710
电话：0512-50107855
传真：0512-50339812/57952762
Email：chenchao@kspuli.com
网址：www.kspuli.com
地址：江苏省昆山市张浦镇俱巷路136号

当前位置：--> 公司新闻

膜厚的量测方法有哪些

作者：　来源：　日期：2020/7/28 14:06:54　人气：1837

膜厚的量测方法大致上可分为原位量测、离位量测两类

原位星测系指镀膜进行中量测，普遍使用在物理气相沉积，如微天平、光学、电阻量测。

离位量测系指镀膜完成后量测，对电镀膜的行使较为普遍，具有了解电镀效率的目的，如质量、剖面计、扫描式电子显微镜。